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德国 Gigahertz-Optik BTS2048-UV-2 紫外至蓝色光谱范围的高质量紧凑型光谱辐射计。
• 高杂散光减少；
• 超快速接口和电子快门；
• BTS2048-UV 具有更大的光谱范围，具有高光学分辨率；
• 适合各种测量任务（UV LED、氘灯、钨丝灯到太阳辐射）；
• 高杂散光减少有助于将精确校准转化为精确测量。
传统CCD探测器的光谱响应度通常在200 nm至1100 nm范围内。通常，CCD 探测器的这种宽光谱响应度范围被称为光谱辐射计的响应度范围。然而，这没有考虑色散光栅的光谱响应函数，这进一步降低了探测器在紫外光谱中的响应度。这会导致紫外线测量信号产生显着误差，主要是通过长波杂散光产生的。宽带光谱仪的光谱分辨率通常不足以保证窄带 UV LED 等的精确测量。
专为紫外线辐射设计的 CCD 光谱辐射计具有有限的光谱范围，并且具有非常高的光栅效率和非常高的光谱分辨率。此外，滤光片还可用于显着减少杂散光。
BTS2048-UV-2 满足高端紫外二极管阵列光谱仪的所有要求，尽管采用尖端技术，但价格极具吸引力。
BiTec 传感器的一项独特功能是背照式 CCD 光谱仪和硅光电二极管的组合，可提供高线性度，从而实现极快的测量（请参阅有关 BiTec 传感器的技术文章）。具有热电冷却功能的全线性化 2048 像素 CCD 探测器由于其积分时间范围为 2 µs 至 60 s，因此可提供非常宽的动态范围。这样可以在较宽的强度范围内精确测量 UV LED。该设计在 200 nm 至 550 nm 的整个光谱测量范围内提供 1 nm 的高光学分辨率。该光谱仪还配备了两个滤光片，用于自动低杂散光测量。在存在其他光源的情况下，此类测量对于宽带 UV 灯和 UV LED 是必要的。另请参阅我们关于光谱辐射计杂散光减少的技术文章。 BiTec 探测器内的极高线性度 SiC 光电二极管用于 CCD 的线性化或用作参考探测器。 SiC 光电二极管的辐射响应度功能使其能够独立于 CCD 使用。可以使用相应的光谱数据自动校正辐射精度。因此，该设备可用于对非常弱的信号执行快速测量，这使得 BTS20418-UV-2 非常适合集成在测角仪中。尽管尺寸紧凑（103 毫米 x 107 毫米 x 52 毫米 - 长 x 宽 x 高），BTS2048-UV 分光辐射度计仍配有一个遥控滤光轮，其中有两个光学滤光片和一个用于暗测量的快门。
多年的经验及其设备齐全的 DAkkS 校准实验室 (DK-15047-01-00) 使 Gigahertz-Optik 能够提供低至 200 nm 的可追溯校准。这拓宽了 BTS2048-UV-2 和 UV-C-LED 的应用范围。对于短波光谱范围，Gigahertz-Optik GmbH 实施了一种特殊的基于氘灯的校准策略。
BTS2048-UV-2 非常适合工业应用中的 UV 前端和后端 LED 测试。其 CCD 探测器在触发测量之前集成了所有像素的电子调零功能（电子快门）。当测试 LED 在脉冲电流模式下运行时，电子快门和测量触发可通过触发端口与电源同步。强大的微处理器只需 7 毫秒即可通过快速 LAN 接口将完整的数据集传输到系统计算机。
BTS2048-UV-2 光谱辐射计具有扩散器窗口，因此可用于测量紫外线辐照度，包括紫外辐照度。光谱和峰值波长，无需任何额外的配件。通过扩散窗，BTS2048-UV-2 还可以直接安装在积分球、辐射透镜和测角仪等配件上，以测量辐射功率、辐射率和辐射分布。
标准S-BTS2048 用户软件具有可定制的用户界面，并提供大量显示和功能模块，当使用 Gigahertz-Optik GmbH 的相应配件配置 BTS2048-UV-2 时，可以激活这些模块。提供 S- SDK -BTS2048 开发者软件，用于将 BTS2048-UV-2 集成到客户自己的软件中。
光度测量设备的一项基本质量特征是其精确且可追溯的校准。 BTS2048-UV-2 由 Gigahertz-Optik 的ISO/IEC 17025 校准实验室进行校准，该实验室根据 ISO/IEC 17025 获得了 DAkkS (DK-15047-01-00) 的光谱响应度和光谱辐照度认证。校准还包括相应的附件组件。每台设备均附有各自的校准证书。
| 产品图 | |
 |  |
| BTS2048-UV-2 用于测量紫外至蓝色光谱范围的高质量紧凑型光谱辐射计 | 用于 BTS2048-UV-2 的 S-BTS2048 软件 |
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| 以太网接口减少了数据传输时间 | 电子快门减少测量时间 |
| （1）常规 | |||
| 简短的介绍： | UV 优化的 TE 冷却 CCD 光谱仪具有宽动态范围，适用于 CW 和辐照度、光谱和峰值波长的短期测量。其他参数的配件。 | ||
| 主要特点： | 设备紧凑。 BiTec 探测器配备背照式 TE 冷却 CCD（2048 像素、1.0 nm 光学分辨率、电子快门）和带辐射滤光片的 SiC 光电二极管。光学带宽校正（CIE214）。带快门和边缘滤镜的滤镜轮。带扩散窗的输入透镜。余弦视场。 | ||
| 测量范围： | 光谱：2E-5 W/(m²nm) 至 1.5E4 W/(m²nm) @325nm。响应度从 200 nm 到 550 nm。 | ||
| 典型应用： | 用于设计应用的 CCD 光谱辐射计。用于集成到前端和后端 LED 测试的测试系统中的模块。 | ||
| 校准： | 工厂校准。可追溯至国际校准标准。 | ||
| （2）产品 | |||
| 典型应用： | 用于光谱辐照度、红斑等的照度计。 | 输入光学器件： | 扩散器，余弦校正视场 (f2 ≤ 3 %) |
| 测量数量： | 光谱辐照度 (W/(m² nm))、辐照度 (W/m²)、峰值波长、中心波长、质心波长、红斑。 | ||
| 可选积分球：另外光谱辐射功率 (W/nm) 和辐射功率 (W) | |||
| 滤光轮： | 4 个位置（打开、关闭、光学滤镜）。用于远程暗电流测量和杂散光减少。 | ||
| BiTec： | 可以使用二极管和阵列进行并行测量，从而通过二极管对阵列进行线性校正，并分别通过a*(s z ( λ )) F*(s z ( λ )) 在线校正二极管的光谱失配。 | ||
| 校准不确定度： | 光谱辐照度 | ||
| λ | u(k=2) | ||
| (200 - 209) nm: | ± 10 % | ||
| (210 - 239) nm: | ± 9 % | ||
| (240 - 339) nm: | ± 6.8 % | ||
| (340 - 359) nm: | ± 5 % | ||
| (360 - 399) nm | ± 4.3 % | ||
| (400 - 550) nm | ± 4 % | ||
| 光谱辐照度响应度 (200 - 550) nm | |||
| 测量模式： | 标准测量模式： | 200 nm 至 550 nm； | |
| 超出范围杂散光校正测量模式 (OoR SLC)： | 200 nm 至 550 nm； | ||
| 杂散光校正带通测量模式 (BP SLC)： | 300 nm 至 386 nm。 | ||
| （3）光谱探测器 | |||
| 积分时间： | 2 μs - 60 s *1 | 光谱范围： | (200 - 550) nm |
| 光带宽： | 1.0 nm | 像素分辨率： | ~0.15 nm/像素 |
| 像素数： | 2048 | 芯片： | 高灵敏度背照式 CCD 芯片，一级冷却 (1TEC) |
| 模数转换器： | 16 位（25 ns 指令周期时间） | 峰值波长： | ± 0.1 nm |
| 带通校正： | 支持数学在线带通校正 | 线性度： | 完全线性化芯片>99.6% |
| 杂散光： | 越界方法 < 1E-4 *3 | 基线噪声： | 5 cts *4 |
| 信噪比： | 5000 *5 | 动态范围： | >9 震级 |
| 光谱响应度： | (2E-5 - 1.5E4) W/(m²nm) @325nm *6*7 | ||
| 典型测量时间： | (250 - 550) nm 卤素灯的 W/m² | ||
| 1 | 4,4 s | ||
| 10 | 440 ms | ||
| 100 | 44 ms | ||
| （4）一体式探测器 | |||
| 测量时间： | (0.1 - 6000) ms | 校准： | 辐照度±6%* 10 |
| 测量范围： | 七 (7) 个测量范围，具有卓越的偏移校正功能。 | ||
| 模数转换器： | 16位 | 测量范围： | 可选：(5E-3 - 2E5) W/m² * 11 |
| 筛选： | 可选：对 220 nm 至 360 nm 范围内的矩形函数的响应度进行数学调整（使用测得的光谱数据对辐射函数进行 SMCF 在线校正）。* | ||
| * 二极管的光谱响应度不对应于矩形函数（光学滤波器不可能）。当测量光谱偏离积分检测器（UV LED，峰值为 405 nm）的光源时，使用 SMCF 校正测量结果。该校正的不确定性取决于测量光谱（噪声）的质量和校正因子（光谱范围）的大小。 | |||
| （5）其它 | |||
| 微处理器： | 32位用于设备控制，16位用于CCD阵列控制，8位用于光电二极管控制。 | ||
| 接口： | USB V2.0、以太网（LAN UDP协议）、RS232、RS485。 | ||
| 数据传输： | 标准为 2048 个浮点数组值，通过以太网 7ms，通过 USB 2.0 140 ms。 | ||
| 输入接口： | 2x (0 - 25) VDC，1x 光电耦合器隔离 5 V / 5 mA | ||
| 输出接口： | 最大 2x 集电极开路最大 25V 500毫安 | ||
| 扳机： | 合并触发输入（不同选项、上升/下降沿、延迟等） | ||
| 软件： | 用户软件 S-BTS2048； | ||
| 可选软件开发套件 S-SDK-BTS2048，用于基于 C、C++、C# 或 LabView 中的 .dll 进行用户软件设置。 | |||
| 电源： | 带电源：直流输入 5V (±10 %) @ 700 mA； | ||
| 带 USB 总线 (500mA) *8。 | |||
| 尺寸： | 103 mm x 107 mm x 52 mm（长×宽×高）。 | 温度范围： | 储存：（-10 至 50）℃； |
| 重量 | 500克 | 操作：（10 至 30）°C *9 | |
| 安装： | 三脚架和 M6 螺纹； | ||
| 前适配器 UMPA-1.0-HL，与积分球端口框架 UMPF-1.0-HL 配合使用。 | |||
| 信息： | *1 建议对积分时间的每次变化执行新的暗信号测量。 | ||
| *2典型值，主波长的不确定度取决于LED的光谱分布。 | |||
| *3 典型值，在具有深蓝色 LED 峰值的冷白宽带 LED 峰值左侧 100 nm 处测量。 | |||
| *4 *5 典型值是在未对 4ms 测量时间和阵列满量程控制进行平均的情况下测得的。平均导致 S/N 二次上升，即基础噪声二次下降，例如平均到 100 倍，S/N 提高 10 倍。 | |||
| *6 最小 500/1 序列号。全量程控制下的最大值。 | |||
| *7 只允许短时间照射，以避免热损伤。 | |||
| *8 在 USB 连接期间，由于电流供应有限，并非所有功能都可用，例如没有以太网和 TEC 冷却。 | |||
| *9 大约需要温度稳定装置。 25分钟在预热阶段进行测量，或者如果在变化的温度下进行测量，则每次测量都需要进行暗信号测量。 | |||
| *10 使用氘灯进行 (Z) 校正。 | |||
| *11 根据氘灯的光谱功率分布，仅允许短时间的最大辐射，以避免热损坏。 | |||
• S-SDK-BTS2048：BTS2048 变体的软件开发套件。
• GB-GD-360-RB40：用于测量 2π 源的测角仪。
• S-BTS2048：BTS2048 变体的应用软件。
• BTS2048-UV-S：使用这款高品质紧凑型光谱辐射计进行紫外测量。
• BTS2048-UV：使用这款高品质紧凑型光谱辐射计进行紫外测量。
• BTS2048 Series：紧凑型光谱辐射计具有出色的光学性能和 BiTec 技术，可用于实验室和现场使用的精确测量。
